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一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置

摘要

本发明提供了一种阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置。本发明所述装置至少包括太赫兹发射模块、太赫兹接收模块、二维平移装置、光学镜片组、数据采集处理和显示模块等五部分。本发明的阵列太赫兹探测器响应度参数的标定方法和装置使用标准单像元探测器对比的定标方法,可以对阵列太赫兹探测器实现精确定标,降低量值传递的不确定度,并通过在波路中加入监视探测器,消除波源稳定性对于传递结果的影响,使标定结果更准确。

著录项

  • 公开/公告号CN108225554B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201810029697.3

  • 申请日2018-01-12

  • 分类号G01J1/00(20060101);

  • 代理机构33272 杭州奥创知识产权代理有限公司;

  • 代理人王佳健

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 10:55:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-17

    授权

    授权

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/00 申请日:20180112

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 申请日:20180112

    实质审查的生效

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

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