首页> 中国专利> 海底底质反射率测量装置及测量方法

海底底质反射率测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种海底底质反射率测量装置及测量方法,包括光谱探头、第一白板、第二白板、测距仪和转轴;第一白板和第二白板的反射率已知,第一白板和第二白板以沿转轴轴向具有间距、且沿转轴径向相互错开的方式连接在转轴上;光谱探头用于获取第一白板、第二白板和海底底质的光谱数据;测距仪用于获取第一白板与海底底质之间的间距数据;转轴用于带动第一白板和第二白板转动,使得第一白板、第二白板依次处于光谱探头的正前方。本发明只采用一个光谱探头就可实现对海底地质反射率的测量,进而可实现海草和珊瑚健康状况的监测,其制作和运行成本低,并在一定程度上解决了因光谱探头差异性导致测量偏差的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN108458993B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院南海海洋研究所;

    申请/专利号CN201810325604.1

  • 申请日2018-04-12

  • 分类号

  • 代理机构广州科粤专利商标代理有限公司;

  • 代理人周友元

  • 地址 510301 广东省广州市海珠区新港西路164号

  • 入库时间 2022-08-23 10:53:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-24

    授权

    授权

  • 2018-09-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/55 申请日:20180412

    实质审查的生效

  • 2018-09-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/55 申请日:20180412

    实质审查的生效

  • 2018-08-28

    公开

    公开

  • 2018-08-28

    公开

    公开

  • 2018-08-28

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号