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具有取决于工艺的槽结构的化学机械抛光基台

摘要

一种抛光体,例如基台(200,230,260,300)或带(400,500),其具有一抛光层(214,404),该抛光层包括一个回混区(202,232,262,308,416,508),其中,在某些条件下,回混发生在晶片(204,234,264,304,408)或工件与抛光层之间的浆料(116)内。抛光层包括在回混区内的第一槽结构(206,236,266,312,428,504)以及在回混区外侧的第二槽结构(208,238,268,320,432,520),该结构与第一槽结构(206,236,266,312,428,504)不同。第一槽结构是存在于回混区内的用过浆料是否有利或有损于抛光晶片设计的。

著录项

  • 公开/公告号CN100366391C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CMP罗姆和哈斯电子材料控股公司;

    申请/专利号CN200410100742.8

  • 发明设计人 格雷戈里·P·马尔多奈伊;

    申请日2004-12-10

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陈文青

  • 地址 美国特拉华

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-06

    授权

    授权

  • 2005-11-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-06-15

    公开

    公开

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