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二维表层模型构建方法及获得二维测线控制点的方法

摘要

本发明提供一种二维表层模型构建方法及获得二维测线控制点的方法。所述模型构建方法包括:求取二维测线网中第一、二测线的控制点;利用控制点建模,得二维表层模型。求取控制点的步骤包括:对第一、二测线分别进行拐点搜索处理,得第一、二测线拐点;利用第一、二测线拐点,得第一、二测线的交点;分别求取第一、二测线上所述交点的成果,进行平均处理,得第一测线与第二测线共用的交点成果,作为控制点。本发明能够根据测线拐点,快速、准确计算二维测线的交点,为表层模型的统一构建打下基础;计算精度高,且计算效率比传统方法具有显著的提高;能够实现交点处的模型闭合,满足二维表层模型精确建模的需求。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-14

    授权

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  • 2018-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V1/28 申请日:20171114

    实质审查的生效

  • 2018-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 1/28 申请日:20171114

    实质审查的生效

  • 2018-04-10

    公开

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  • 2018-04-10

    公开

    公开

  • 2018-04-10

    公开

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