首页> 中国专利> 塔康\精密测距设备测距精度分析方法

塔康\精密测距设备测距精度分析方法

摘要

本发明提供了一种塔康\精密测距设备测距精度分析方法,从机载询问设备和应答器两方面对DME/P、TACAN测距精度进行分析,综合机载设备和应答器对测距误差的影响,得到测距系统的误差。本发明从影响DME/P、TACAN测距精度的诸多因素出发,给出DME/P、TACAN测距精度的详细分析方法,为DME/P、TACAN系统的设计提供了理论依据。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-07

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C25/00 申请日:20161219

    实质审查的生效

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 25/00 申请日:20161219

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

  • 2017-05-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号