首页> 中国专利> 半导体衬底处理中所用的反应室气体分配系统及处理反应室中的衬底的方法

半导体衬底处理中所用的反应室气体分配系统及处理反应室中的衬底的方法

摘要

用于处理半导体衬底的气体分配系统,包括:多个气体供给设备;在其中将来自多个气体供给设备的气体混合在一起的混合歧管;将混合气体输送给室中的各个区的多条气体供应线;以及控制阀。气体供应线包括将混合气体输送给室中的第一区的第一气体供应线以及将混合气体输送给室中的第二区的第二气体供应线。控制阀控制第一和/或第二供应线中混合气体的流率以便在第一和第二气体供应线中实现混合气体的流率的想要的比率。在使用该装置的方法中,将半导体衬底提供给反应室以及通过将混合气体提供给第一和第二区来处理衬底,调整控制阀以便在第一和/或第二气体供应线中的混合气体的流率提供第一和第二区中混合气体的流率的想要的比率。

著录项

  • 公开/公告号CN100358080C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 兰姆研究公司;

    申请/专利号CN01816884.1

  • 申请日2001-09-26

  • 分类号H01J37/32(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人付建军

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J 37/32 授权公告日:20071226 终止日期:20180926 申请日:20010926

    专利权的终止

  • 2007-12-26

    授权

    授权

  • 2007-12-26

    授权

    授权

  • 2004-03-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-03-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-01-14

    公开

    公开

  • 2004-01-14

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号