首页> 中国专利> 一种基于散斑估计和反卷积的非侵入式散射成像方法

一种基于散斑估计和反卷积的非侵入式散射成像方法

摘要

本发明公开了一种基于散斑估计和反卷积的非侵入式散射成像方法,包括:使用非侵入式成像系统采集N个经过相同散射介质遮挡区域的训练样本的集成强度矩阵并经处理得到训练样本的重构结果利用散斑图样S以及前一步骤得到的训练样本重构结果和集成强度矩阵之间的卷积关系建立受约束的最小二乘模型,得到估计的散斑图样对散射介质遮挡区域的待观测样本Oc,采集其集成强度矩阵IIMc,进行反卷积操作重构待观测样本的像本发明可非侵入式地得到估计的散斑图样,实现复杂样本的高效重构,明显提升重构结果的清晰度和鲁棒性。

著录项

  • 公开/公告号CN107247332B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学深圳研究生院;

    申请/专利号CN201710661919.9

  • 发明设计人 金欣;王周平;戴琼海;

    申请日2017-08-04

  • 分类号G02B27/00(20060101);G01N21/47(20060101);

  • 代理机构44223 深圳新创友知识产权代理有限公司;

  • 代理人方艳平

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区

  • 入库时间 2022-08-23 10:42:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-08

    授权

    授权

  • 2017-11-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B27/00 申请日:20170804

    实质审查的生效

  • 2017-11-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 27/00 申请日:20170804

    实质审查的生效

  • 2017-10-13

    公开

    公开

  • 2017-10-13

    公开

    公开

  • 2017-10-13

    公开

    公开

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