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光学元件多波长激光损伤测试与分析系统

摘要

一种光学元件多波长激光损伤测试与分析系统,该测试系统中能量采集、电机驱动、光束质量监测、损伤图像监测均由主控计算机自动化完成。本发明不仅包含了以往多种单光束损伤探测系统对各类光学元件激光损伤探测与分析的功能,并且能实时观测光学元件损伤的横向与纵向发展过程,测试系统具有从飞秒到纳秒不同激光脉宽的脉冲激光器,是一种自动化的支持多波长的适用于不同激光脉宽的光学元件激光损伤测试系统,为研究多波长激光与材料耦合相互作用提供实验平台。

著录项

  • 公开/公告号CN108519218B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810226781.4

  • 发明设计人 郝艳飞;孙明营;郭亚晶;

    申请日2018-03-19

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区清河路390号

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-18

    授权

    授权

  • 2018-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180319

    实质审查的生效

  • 2018-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180319

    实质审查的生效

  • 2018-09-11

    公开

    公开

  • 2018-09-11

    公开

    公开

  • 2018-09-11

    公开

    公开

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