芯片错误注入测试中的能量参数调整系统及方法

摘要

本发明公开一种芯片错误注入测试中的能量参数调整系统及方法，在错误注入攻击测试过程中，采集待测芯片的状态信号、电磁信号、功耗信号等，根据其状态信号、电磁信号、功耗信号判断分析注入的能量是否合理，根据分析结果，动态调整干扰源的能量参数，并根据调整后的能量参数控制干扰源的输出能量；通过前期的测试与调整过程，预生成较为合理的能量参数信息，后续按照能量参数信息进行测试工作，并在测试过程中，对预生成的能量参数信息进行更新、优化。本发明的系统及方法，能够自动调整、优化能量参数，大幅提升测试工作效率，保证测试结果的准确性、有效性。