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一种适合空间应用的小型化长工作距显微光学系统

摘要

本发明公开了一种适合空间应用的小型化长工作距显微光学系统,该系统包含一个长工作距消色差显微物镜和一个折光系统。所说的长工作距消色差显微物镜从物方至像方按顺序由第一正透镜、第二正透镜、正胶合透镜组、负胶合透镜组组成。所说的折光系统由两块反射棱镜、光学胶合构成。本发明的优点是采用逆向光路追迹,其中负透镜组起增大放大率的作用,增大后截距,从而增加后工作距;结合另一正透镜组和两个单片正透镜,使每个透镜的光焦度合理化均匀分配,可以降低高级像差,实现平像场,共同组成长工作距离显微物镜。并采用全反射式折光系统缩短轴向距离,构成一种适合空间实际应用的小型化长工作距显微光学系统。

著录项

  • 公开/公告号CN100345022C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;

    申请/专利号CN200510027651.0

  • 申请日2005-07-11

  • 分类号G02B21/02(20060101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人郭英

  • 地址 200083 上海市玉田路500号

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02B 21/02 授权公告日:20071024 终止日期:20110711 申请日:20050711

    专利权的终止

  • 2007-10-24

    授权

    授权

  • 2006-03-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-25

    公开

    公开

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