首页> 中国专利> 一种测试磁性材料的铁磁共振线宽面内分布的方法及系统

一种测试磁性材料的铁磁共振线宽面内分布的方法及系统

摘要

本发明公开了一种测试磁性材料铁磁共振线宽面内分布的方法及系统,涉及磁性材料参数测试技术领域。本发明能够克服现有技术中微波探针尖端在测试磁性材料中形成微波磁场很弱的缺点,本发明通过增强微波探针的尖端在磁性材料中形成的微波磁场,使得矢量网络分析仪获得更强的返回信号,进而能够用于测试更薄的磁性薄膜的铁磁共振线宽;本发明能够通过分析磁性薄膜样品各区域的铁磁共振线宽的差异进一步反映磁性薄膜的均匀性,相比于传统的光学测试方法具有快速、简便的优势。

著录项

  • 公开/公告号CN106872917B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710123217.5

  • 发明设计人 彭斌;李白雪;张文旭;张万里;

    申请日2017-03-03

  • 分类号G01R33/20(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:39:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-23

    授权

    授权

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/20 申请日:20170303

    实质审查的生效

  • 2017-07-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/20 申请日:20170303

    实质审查的生效

  • 2017-06-20

    公开

    公开

  • 2017-06-20

    公开

    公开

  • 2017-06-20

    公开

    公开

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