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一种光学薄膜超宽带光学常数测试方法

摘要

本发明公开了一种光学薄膜超宽带光学常数的测试方法,用于计算光学薄膜材料在可见光到红外波段的全谱段光学常数,尤其是针对0.3um‑20um波长范围内,通过使用基底‑薄膜透明区的光谱透射率和非透明区的光谱反射率相复合作为目标光谱,以振荡子模型作为光学常数的色散模型,通过目标光谱数据反演计算出薄膜的超宽带光学常数。本方法对于薄膜材料具有普适性。

著录项

  • 公开/公告号CN106706521B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津津航技术物理研究所;

    申请/专利号CN201611141412.2

  • 申请日2016-12-12

  • 分类号

  • 代理机构中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人刘东升

  • 地址 300308 天津市东丽区空港经济开发区中环西路58号

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-16

    授权

    授权

  • 2017-06-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/25 申请日:20161212

    实质审查的生效

  • 2017-06-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/25 申请日:20161212

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    公开

    公开

  • 2017-05-24

    公开

    公开

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