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SENSE型磁共振重构中的参考过采样

摘要

本发明涉及SENSE型磁共振重构中的参考过采样。磁共振成像针对减小视场使用正则化SENSE重构(22),但最小化折叠伪像。相对于减小视场对参考扫描(14)过采样(16)。过采样(16)提供针对比减小视场更大的区域的线圈灵敏性信息。使用针对该更大区域的线圈灵敏性、针对减小视场而对对象的重构(22)可以具有更少的折叠伪像。

著录项

  • 公开/公告号CN104698414B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201410413642.4

  • 申请日2014-08-21

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人马红梅

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-06

    授权

    授权

  • 2016-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/56 申请日:20140821

    实质审查的生效

  • 2016-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/56 申请日:20140821

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    公开

    公开

  • 2015-06-10

    公开

    公开

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