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一种高电阻温度系数二氧化钒薄膜及其低温沉积方法

摘要

本发明涉及一种高电阻温度系数二氧化钒薄膜及其低温沉积方法,所述薄膜由通过磁控溅射依次形成在衬底上的三氧化二钒籽晶层以及掺杂二氧化钒薄膜层构成,所述掺杂二氧化钒薄膜层的化学组成为W

著录项

  • 公开/公告号CN108070835B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN201611000544.3

  • 发明设计人 曹逊;金平实;孙光耀;李荣;

    申请日2016-11-14

  • 分类号

  • 代理机构上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹芳玲

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-16

    授权

    授权

  • 2018-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/35 申请日:20161114

    实质审查的生效

  • 2018-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 14/35 申请日:20161114

    实质审查的生效

  • 2018-05-25

    公开

    公开

  • 2018-05-25

    公开

    公开

  • 2018-05-25

    公开

    公开

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