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磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置

摘要

本发明实施方式公开了一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置。方法包括:执行一负载全反射测试;检测所述负载全反射测试的一负载全反射功率损耗;基于所述负载全反射功率损耗和一特定参数确定所述射频线圈功率损耗。无需额外设置用于检测射频线圈射频电压的耦合线圈,而是基于负载全反射功率损耗和一特定参数确定射频线圈功率损耗,因此本发明实施方式可以在不使用耦合线圈的条件下计算射频线圈功率损耗,节省了硬件投入。

著录项

  • 公开/公告号CN104950166B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子(深圳)磁共振有限公司;

    申请/专利号CN201410123909.6

  • 发明设计人 林厚全;唐煜;

    申请日2014-03-28

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518057 广东省深圳市高新区中区高新中二道西门子磁共振园

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-02

    授权

    授权

  • 2015-11-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R21/06 申请日:20140328

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 21/06 申请日:20140328

    实质审查的生效

  • 2015-09-30

    公开

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  • 2015-09-30

    公开

    公开

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