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基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法

摘要

本发明提供了一种基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法,包括:测温元件(2)、柔性电加热器(3)、温度控制模块(4)、数据采集模块(5)、计算机控制模块(6)、红外热像仪(7);测温元件(2)测量空间材料(1)的实际温度,并将测得的温度数据传输至计算机控制模块(6);温度控制模块(4)通过柔性电加热器(3)控制空间材料(1)的温度,并将温度数据传输至计算机控制模块(6);红外热像仪(7)测试所述空间材料(1)的表面温度;计算机控制模块(6)计算得到所述空间材料(1)的发射率。本发明提供的系统和方法,成本低,操作简单,实现了不规则表面发射率的非接触测量。

著录项

  • 公开/公告号CN105486711B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星装备研究所;

    申请/专利号CN201510812414.9

  • 发明设计人 董学金;季琨;庞乐;代善良;

    申请日2015-11-20

  • 分类号G01N25/00(20060101);

  • 代理机构31236 上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    授权

    授权

  • 2016-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/00 申请日:20151120

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/00 申请日:20151120

    实质审查的生效

  • 2016-04-13

    公开

    公开

  • 2016-04-13

    公开

    公开

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