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一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置

摘要

本发明提供一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置,包括:一安装在面探测器的直通光束阻挡片上并与一外围控制计算机连接的光电二极管;以及一安装在所述光电二极管前面的X光衰减片。该装置还包括一套设于所述光电二极管上的套子,且所述X光衰减片安装于所述套子的前端。本发明在对样品的切光过程中采用所述光电二极管代替衍射仪自带的点探测器,简化了使用面探测器进行X光反射式衍射测试的实验步骤,节省了时间,提高了实验的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN106596606B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海应用物理研究所;

    申请/专利号CN201611192255.8

  • 发明设计人 柳义;文闻;阴广志;高兴宇;

    申请日2016-12-21

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号

  • 入库时间 2022-08-23 10:36:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-30

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/20 申请日:20161221

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/20 申请日:20161221

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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