首页> 中国专利> X射线图像检测器的制造方法和制造装置及X射线图像检测器

X射线图像检测器的制造方法和制造装置及X射线图像检测器

摘要

一种X射线图像检测器的制造方法,在构成X射线图像检测输入部的输入基板(21)上,形成将X射线变换成光的CsI膜等X射线发光荧光膜(22)。对X射线发光荧光膜(22)的表面部分照射具有波长500nm以下的高能光。利用照射高能光,使X射线发光荧光膜(22)的表面部分局部升华及/或熔融而平整。通过利用激光那样的高能光,从而能有效并均匀地使X射线发光荧光膜的表面部分变得平坦。

著录项

  • 公开/公告号CN1333421C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东芝;

    申请/专利号CN02816856.9

  • 发明设计人 山岸城文;

    申请日2002-08-29

  • 分类号H01J9/22(20060101);H01J29/38(20060101);H01J31/50(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人沈昭坤

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J 9/22 授权公告日:20070822 终止日期:20120829 申请日:20020829

    专利权的终止

  • 2007-08-22

    授权

    授权

  • 2005-01-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-11-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号