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一种基于H桥电阻的绝缘电阻测量电路的校准方法及装置

摘要

本发明实施例提供的一种基于H桥电阻的绝缘电阻测量电路的校准方法及装置,通过调节标准电压源的电压大小和测量环境温度大小并获取测试电阻两端的电压的测量值;在不同温度下对标准电压源的电压U‑和U和所述测试电阻两端的第一测量电压Ux‑和第二测量电压Ux进行线性拟合,获得不同温度下的线性参数,包括斜率k‑、k和偏移值b‑、b;根据不同温度值对应的线性参数进行分段计算,并分别校准不同温度下的电阻测量电路中的直流母线电压U、负母线对地电压U‑和所述测试电阻两端的电压的测量关系公式,实现了温度补偿,使得对绝缘电阻的测量更加接近真实值,测量结果更加精确,解决了现有的绝缘电阻测量方法电阻阻值受温度变化的影响导致测量精度不高的技术问题。

著录项

  • 公开/公告号CN106997006B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州致远电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201710261891.X

  • 发明设计人 周立功;王琳煜;黄钦宁;周会泉;

    申请日2017-04-20

  • 分类号G01R27/02(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人张春水;唐京桥

  • 地址 510000 广东省广州市天河区高普路1035号第2层204房

  • 入库时间 2022-08-23 10:35:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-25

    授权

    授权

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20170420

    实质审查的生效

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20170420

    实质审查的生效

  • 2017-08-01

    公开

    公开

  • 2017-08-01

    公开

    公开

  • 2017-08-01

    公开

    公开

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