一种支持DDR3数据通路调试的调试控制单元及调试方法

摘要

本发明公开了一种支持DDR3数据通路调试的调试控制单元及调试方法，该调试控制单元包括数据采样单元、数据压缩单元、调试数据缓冲单元以及一个以上的调试主机接口单元；所述数据采用单元采用DDR3数据通路的有效数据，并经过所述数据压缩单元，存入所述调试数据缓冲单元；所述调试主机接口单元将调试数据从数据缓冲单元中读取出来，通过芯片的调试接口发送给调试主机。该调试方法是基于上述调试控制单元来实施。本发明具有结构简单、操作简便、能够降低调试难度、加快调试收敛速度等优点。