片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量

摘要

片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量方法及装置，所述片上系统包括：CPU、嵌入式存储器和外围电路，电压调节器输入基准电压，向嵌入式存储器输出测试电压，电压调节器能够连接测试机台；嵌入式存储器连接数据比较器；参考数据产生器连接数据比较器；数据比较器能够连接所述测试机台；状态机连接嵌入式存储器、数据比较器和加法器/减法器，状态机能够连接所述测试机台；加法器/减法器连接电压调节器。本发明在测量片上系统芯片的嵌入式存储器最低工作电压的过程中，采用片上系统芯片内置的电压调节器来向嵌入式存储器提供测试电压，从而大大减少了每次调节测试电压之后等待电压稳定所花费的时间，显著提高了测试效率。