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X射线透视摄影装置以及X射线透视图像的余像修正方法

摘要

本发明提供一种X射线透视摄影装置以及X射线透视图像的余像修正方法,其在交替地重复进行摄影和透视的情况下,也能够高精度地修正余像成分。在每次取得X射线的摄影图像时,得到摄影后的余像图像,针对本次摄影后得到的余像图像和上次以前的摄影后得到的余像图像,对对应的每个像素计算余像图像的像素值因时间经过产生的衰减后的值。然后,从本次摄影后得到的透视图像的像素值减去计算出的衰减后的值,由此除去余像。

著录项

  • 公开/公告号CN106073809B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立制作所;

    申请/专利号CN201610094436.0

  • 申请日2016-02-19

  • 分类号

  • 代理机构北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人范胜杰

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:32:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-10

    授权

    授权

  • 2016-12-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/00 申请日:20160219

    实质审查的生效

  • 2016-12-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 申请日:20160219

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    公开

    公开

  • 2016-11-09

    公开

    公开

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