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一种基于递推最小二乘法的磁强计现场快速标定方法

摘要

本发明公开了一种基于递推最小二乘法的磁强计现场快速标定方法,属于惯性技术领域。所述方法将磁强计置于大致的水平面上,上电预热后,分别依次绕磁强计X轴、Y轴和Z轴轴向旋转,绕各轴旋转时,先将待旋转的轴保持水平,并朝向东;旋转的同时采集磁强计的测量值;采用递推最小二乘法对参数求解,得到9项误差参数,进而得到等效误差矩阵和偏差,对测量值进行误差补偿。本发明方法基于椭球假设的磁强计误差模型,采用递推最小二乘法实时推算出磁强计的参数。本方法无需任何平台基准,不依赖任何环境,所设计的3D标定路径,简单易行,所提出的递推最小二乘法不需要大量数据贮存,节省了计算机的内存,实现了参数实时在线辨识。

著录项

  • 公开/公告号CN107024674B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201710382599.3

  • 发明设计人 李保国;陈克川;李淑影;

    申请日2017-05-26

  • 分类号G01R35/00(20060101);G01C25/00(20060101);

  • 代理机构11121 北京永创新实专利事务所;

  • 代理人姜荣丽

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-26

    授权

    授权

  • 2017-09-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R35/00 申请日:20170526

    实质审查的生效

  • 2017-09-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20170526

    实质审查的生效

  • 2017-08-08

    公开

    公开

  • 2017-08-08

    公开

    公开

  • 2017-08-08

    公开

    公开

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