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基于零折射率超材料的精密光学测距方法

摘要

一种基于零折射率超材料的精密光学测距方法,反射面被固定在被测面上,入射光沿光轴方向经过零折射率超材料出射后在自由空间中传播距离D,被反射面反射按原路返回到零折射率超材料,在其中入射光与反射光相互叠加,合成波光强从最暗到最亮每变化一次,被测面的位移量为λ/4,根据合成波光强明暗变化次数N能准确测得被测面的连续位移量ΔD=Nλ/4。通过在出射面和被测面上安装平面反射镜组可进一步提高系统测量精确度,位移分辨率达λ/(4M)。该方法操作简单、测量精准,位移分辨率小于传统干涉式测距方法的λ/2分辨率,可在光频下实现相移量的精确测量,分辨率达π/(2M),适用于包括无线电波段和光波段的全波段范围。

著录项

  • 公开/公告号CN106842227B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院大学;

    申请/专利号CN201710130550.9

  • 发明设计人 董国艳;李振飞;

    申请日2017-03-07

  • 分类号

  • 代理机构济南日新专利代理事务所;

  • 代理人王书刚

  • 地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(甲)

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-16

    授权

    授权

  • 2017-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S17/46 申请日:20170307

    实质审查的生效

  • 2017-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 17/46 申请日:20170307

    实质审查的生效

  • 2017-06-13

    公开

    公开

  • 2017-06-13

    公开

    公开

  • 2017-06-13

    公开

    公开

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