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一种基于双金属纳米粒子用于偏振显微成像的探针

摘要

本发明公开了一种基于双金属纳米粒子用于偏振显微成像的探针,探针由两个分别具有表面等离子共振效应的金属纳米粒子线性连接构成,粒子间距的取值不大于最大粒子的直径。本发明利用双金属纳米粒子间的表面等离子共振耦合对入射光产生的去偏振作用和增强散射,用正交偏振技术去除强大的入射背景并提取双金属纳米粒子的增强散射信号进行成像,本发明的效果和益处是为单分子影像技术提供一种基于双金属纳米粒子的新型探针。

著录项

  • 公开/公告号CN107101942B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201710346427.0

  • 发明设计人 洪昕;

    申请日2017-05-17

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01N21/21(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人梅洪玉

  • 地址 124221 辽宁省盘锦市辽东湾新区大工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    授权

    授权

  • 2017-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/01 申请日:20170517

    实质审查的生效

  • 2017-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20170517

    实质审查的生效

  • 2017-08-29

    公开

    公开

  • 2017-08-29

    公开

    公开

  • 2017-08-29

    公开

    公开

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