首页> 中国专利> 图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法

图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法

摘要

本发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法,该系统沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统、第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器;入射光经前置望远系统准直后变为平行光,平行光依次通过第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器和成像镜,最终在CCD探测器上获取到两幅三通道干涉图。本发明能够解决序列测量方法时间及空间失配的问题,能够实时测量快速变化的目标,同时能够克服通道光谱技术中,复原强度光谱存在误差及光谱分辨率严重降低的缺点。

著录项

  • 公开/公告号CN107036713B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201710348763.9

  • 发明设计人 张淳民;权乃承;穆廷魁;

    申请日2017-05-17

  • 分类号

  • 代理机构西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人刘强

  • 地址 710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    授权

    授权

  • 2017-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/30 申请日:20170517

    实质审查的生效

  • 2017-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/30 申请日:20170517

    实质审查的生效

  • 2017-08-11

    公开

    公开

  • 2017-08-11

    公开

    公开

  • 2017-08-11

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号