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瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置

摘要

本发明提供一种瞬态荧光测量材料热扩散率的方法及装置,该方法包括步骤一、利用调制脉冲激光作为样品的加热光源和荧光信号的激发光源,对样品表面进行照射;二、采集样品受激发后反馈出的荧光信号,将信号强度与样品的荧光强度—温度曲线比对,得到样品温度信息;三、多次改变脉冲激光的脉冲宽度,得到不同瞬态加热周期下样品的瞬态温升;四、根据待测样品的导热模型温度场分析解表达式,用多组测量数据带入拟合得到材料的热扩散率。基于该方法设计了对应的测量装置平台。本发明测量材料热扩散率时,不易损坏样品,测量误差小,效率高。

著录项

  • 公开/公告号CN106596626B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201611073760.0

  • 申请日2016-11-29

  • 分类号G01N25/20(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人薛玲

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:29:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/20 申请日:20161129

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20161129

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

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  • 2017-04-26

    公开

    公开

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