一种OLED器件衰减分析装置及衰减分析方法

摘要

本发明公开一种OLED器件衰减分析装置及衰减分析方法，涉及显示技术领域，以判断OLED器件中发光层的发光材料是否发生本征衰减。该OLED器件衰减分析装置通过获取OLED器件老化前后，第一、二发光约束条件下OLED器件发光亮度；根据OLED器件老化前后，第一、二发光约束条件下OLED器件发光亮度的差值，构建老化前后发光亮度差值函数，并对该函数进行积分，对比老化前后积分结果，根据对比结构判断OLED器件的发光层的发光材料是否发生本征衰减。该OLED器件衰减分析方法包括上述OLED器件衰减分析装置。该OLED器件衰减分析装置用于OLED器件衰减分析。