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带引线热敏电阻的电阻测量装置

摘要

本发明主要是提供一种带引线的电子元器件的电阻测量装置,其能够防止测量精度可靠性的降低。包括:在使多个带引线热敏电阻(W)排列的状态下,保持引线部分(b)的工件托架(12);在支承工件托架(12)以使热敏电阻部分(a)突出的状态下,能在规定方向上传送带引线热敏电阻(W)的支承部(14);收纳使热敏电阻部分(a)浸渍的载热体的浸渍槽(26);以及在引线部分(b)的长边方向观察时,通过使测量端子(46)在气氛中接触至与热敏电阻部分(a)相反一侧的引线部分(b)的前端部,来对带引线热敏电阻(W)的电阻值进行测量的测量部(40),在支承部(14)中内置使与浸渍槽(26)的载热体(h)相同的载热体循环的循环流路(24),在浸渍槽(26)中被加热的热敏电阻部分(a)的温度与经由在循环流路(24)内循环的载热体(h)而被加热的引线部分(a)的温度被设定成大致相同的温度。

著录项

  • 公开/公告号CN106574940B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社村田制作所;

    申请/专利号CN201580037071.1

  • 发明设计人 户田圭;

    申请日2015-02-27

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人万捷

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-15

    授权

    授权

  • 2017-05-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20150227

    实质审查的生效

  • 2017-05-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20150227

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    公开

    公开

  • 2017-04-19

    公开

    公开

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