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一种用于原子力显微镜表征的样品制备方法

摘要

本发明提出一种用于原子力显微镜表征的样品制备方法,包括下列步骤:步骤一:将大环分子样品溶解于第一溶剂中,形成均匀分散的大环分子单体溶液;步骤二:将基底放入第二溶剂饱和蒸汽环境,在基底表面加入一定量步骤一所配置大环分子单体溶液;步骤三:将带有上述溶液的基底在第二溶剂饱和蒸汽环境放置孵育一定时间,使大环分子在基底表面自组装形成紧密排列的纳米管单层;步骤四:将上述步骤三所得纳米管样品放置于真空中,使基底表面第一溶剂与第二溶剂充分挥发,使表面大环分子停止动态自组装过程。本发明提出的用于原子力显微镜表征的样品制备方法,具有可获得基底表面紧密排列纳米管单层,更加适用于原子力显微镜高分辨结构表征研究的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN106199075B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201610482237.7

  • 发明设计人 孙洁林;邵志峰;沈轶;

    申请日2016-06-27

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-22

    授权

    授权

  • 2017-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q30/20 申请日:20160627

    实质审查的生效

  • 2017-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 30/20 申请日:20160627

    实质审查的生效

  • 2016-12-07

    公开

    公开

  • 2016-12-07

    公开

    公开

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