首页> 中国专利> 连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪

连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪

摘要

本发明公开一种连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪,该连续衍射分光与探测装置是由两条轨道和相应的支臂组成等角等距虚拟的罗兰圆装置,结构简单,维护方便,且可实现弯曲晶体条件下的连续不间断衍射分光与探测;顺序式X射线荧光光谱仪采用等角等距虚拟的罗兰圆装置来实现入射狭缝、弯曲晶体和X射线探测器狭缝在运动时始终满足罗兰圆条件和布拉格衍射条件,以实现弯曲晶体衍射,并且可连续衍射分光与探测,从而实现连续不间断波长的顺序式分析。

著录项

  • 公开/公告号CN105628720B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市禾苗分析仪器有限公司;

    申请/专利号CN201510104440.6

  • 发明设计人 范真;

    申请日2015-03-10

  • 分类号

  • 代理机构广东国晖律师事务所;

  • 代理人邓钜明

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区南头关口二路智恒战略性新兴产业园(原安乐工业区综合楼)27栋2楼B

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-25

    授权

    授权

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20150310

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20150310

    实质审查的生效

  • 2016-06-01

    公开

    公开

  • 2016-06-01

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号