首页> 中国专利> 基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法

基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法

摘要

本发明公开了一种基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法,具体包括采集原始数据、计算角反射器点的初始像素坐标、解算角反射器点的像素级坐标、以及通过干涉参数测量检校剔除粗差,获取精确的角反射器点的子像素级坐标。本发明兼顾了角反射器的影像特征以及几何特征,可实现自动化子像素级角反射器提取,该方法提高了点位提取效率,同时保证了点位坐标的精度,实现了子像素级自动化的提取角反射器点坐标。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01S 13/90 变更前: 变更后: 申请日:20161219

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2019-01-11

    授权

    授权

  • 2019-01-11

    授权

    授权

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20161219

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20161219

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/90 申请日:20161219

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    公开

    公开

  • 2017-03-22

    公开

    公开

  • 2017-03-22

    公开

    公开

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