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用于无铅焊料连接的引线框架结构

摘要

一种电子封装装置,供电子封装装置里使用的引线框架结构,以及用于制造电子封装装置的方法。例如由铜制成的引线框架包括例如镍的金属阻挡层以防止引线框架的金属的氧化。例如铜的相对薄的润湿促进层被提供在金属阻挡层上以在通过其芯片连接至引线框架的管芯连接工艺期间促进诸如无铅、锌基焊料的焊料均匀润湿至引线框架上。铜/锌金属间层在焊料的流动和固化期间形成。在铜/锌金属间层的形成期间消耗铜层中基本上所有的铜,以及金属间层足够薄以在电子封装装置的制造和后续使用期间抵抗内部破裂故障。

著录项

  • 公开/公告号CN105283954B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 霍尼韦尔国际公司;

    申请/专利号CN201480024991.5

  • 发明设计人 J·李;K·B·阿尔鲍夫;

    申请日2014-04-22

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人申屠伟进

  • 地址 美国新泽西州

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-18

    授权

    授权

  • 2016-05-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/48 申请日:20140422

    实质审查的生效

  • 2016-05-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/48 申请日:20140422

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    公开

    公开

  • 2016-01-27

    公开

    公开

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