自动确定多个X射线源的X射线辐射的谱分布

摘要

本发明涉及一种用于自动确定计算机断层成像系统(10)的多个X射线源(100_a，100_b)的X射线辐射(R₁，R₂)的谱分布的方法。在此首先确定X射线源(100_a，100_b)的起始控制参数(A_NORM,U_NORM)，其确定X射线辐射的剂量和谱分布。然后基于X射线辐射(R₁，R₂)通过检查对象(O)的预计衰减，从起始控制参数(A_NORM,U_NORM)出发，确定特定于检查对象的基本控制参数(A_PAT)。然后基于X射线辐射(R₁，R₂)通过检查对象(O)的预计衰减和基本控制参数(A_PAT)，确定第一目标控制参数(A_MES1,U_MES1)和第二目标控制参数(A_MES2,U_MES2)，用于设置在随后的对检查对象(O)的多能量测量中的X射线辐射(R₁，R₂)的谱分布。此外描述了一种用于运行计算机断层成像系统(10)的方法、一种用于计算机断层成像系统(10)的为此合适的控制装置(200)以及一种具有这样的控制装置(200)的计算机断层成像系统(10)。