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一种变温光谱测量装置

摘要

本发明涉及一种变温光谱测量装置,该装置包括激发光源、积分球、控温样品台、温度控制器和探测器;其中,温度控制器用于控制控温样品台的温度,激发光源与积分球以及积分球与探测器之间通过光纤相连接;激发光源发出的激发光通过光纤引入到积分球的积分球入射口并入射在控温样品台上,控温样品台上放置样品时样品发出的光或者控温样品台上未放置样品时控温样品台反射的光通过积分球出射口经光纤收集后引入到探测器,通过对比放置和未放置样品时探测器检测到的发射光谱的差异,计算得到发光量子产率,从而实现对样品发光的测量。本发明结合激发光源及探测器,可实现发光材料的变温发射光谱、量子产率等光学性能的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN105403548B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门稀土材料研究所;

    申请/专利号CN201510898434.2

  • 发明设计人 朱浩淼;马恩;

    申请日2015-12-08

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11535 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘元霞;牛艳玲

  • 地址 361024 福建省厦门市集美区集美大道1300号创新大厦17、8层

  • 入库时间 2022-08-23 10:21:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-13

    授权

    授权

  • 2016-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20151208

    实质审查的生效

  • 2016-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20151208

    实质审查的生效

  • 2016-03-16

    公开

    公开

  • 2016-03-16

    公开

    公开

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