AMOLED的像素测试电路的量测方法

摘要

本发明提供一种利用具有4个独立探针的TEG量测机台对AMOLED的nTmC结构的像素测试电路进行量测的量测方法，通过分成补偿步骤，缓冲步骤，发光步骤等多个阶段地进行量测，能够无需另外配置探针，也无需选购配置有足够多的独立探针的量测机台，即能够对像素测试电路进行量测，从而能够实现一般的TEG量测机台的通用性，节约用于测试的配套设备成本。