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正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统

摘要

本发明公开了一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统。该校正方法包括:建立多层晶体响应线模型;获取PET探测器输出的实际符合事例数据;根据多层晶体响应线模型,对实际符合事例数据进行扩展,生成扩展响应线数据;以及根据扩展响应线数据,确定校正响应线数据。通过本发明的深度效应校正方法,对探测器为单层晶体或较少晶体层数的PET数据进行深度效应校正后,重建出的图像空间位置定位更准确,图像径向和切向空间分辨率都有了很大提高,图像质量明显改善,并且可以达到与硬件上为多层晶体的PET数据基本相同的重建效果。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-28

    授权

    授权

  • 2016-05-25

    发明专利公报更正 卷:32 号:13 IPC(主分类):A61B0006030000 更正项目:姓名|共同发明人 误:孙校丽|单保慈|刘双全|葛红红|贠明凯|高娟|李默涵|柴培|章志明|王骏飞|韩强强|刘志蓉 正:孙校丽|单保慈|刘双全|葛红红|贠明凯|高娟|李默涵|柴培|章志明|魏龙|王骏飞|韩强强|刘志蓉 申请日:20151219

    发明专利更正

  • 2016-05-25

    发明专利公报更正 卷:32 号:13 IPC(主分类):A61B0006030000 更正项目:姓名|共同发明人 误:孙校丽|单保慈|刘双全|葛红红|贠明凯|高娟|李默涵|柴培|章志明|王骏飞|韩强强|刘志蓉 正:孙校丽|单保慈|刘双全|葛红红|贠明凯|高娟|李默涵|柴培|章志明|魏龙|王骏飞|韩强强|刘志蓉 申请日:20151219

    发明专利更正

  • 2016-03-30

    著录事项变更 IPC(主分类):A61B6/03 变更前: 变更后: 申请日:20151219

    著录事项变更

  • 2016-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20151219

    实质审查的生效

  • 2016-03-30

    著录事项变更 IPC(主分类):A61B 6/03 变更前: 变更后: 申请日:20151219

    著录事项变更

  • 2016-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20151219

    实质审查的生效

  • 2016-03-02

    公开

    公开

  • 2016-03-02

    公开

    公开

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