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一种干涉测量中成像畸变的标定系统及标定方法

摘要

本发明涉及光学检测技术领域,特别涉及一种干涉测量中成像畸变的标定系统,包括干涉测量中成像畸变的标定系统,包括干涉测量装置、调整机构、球冠网格板和数据处理装置,球冠网格板,用于对所述被检光学元件进行畸变标定;调整机构调整光学被检光学元件处于干涉测量装置共焦干涉检测位置,被检光学元件中心、球冠网格板的几何中心与干涉测量装置的光轴重合,球冠网格板的坐标轴与干涉测量装置探测器的坐标轴重合;干涉测量装置进行干涉检测;数据处理装置计算畸变函数及被检光学元件的面形误差。本发明还包括干涉测量中成像畸变的标定方法。通过设置网格板,进行成像畸变标定,达到了在不破坏被检元件的情况下,实现成像畸变标定的有益效果。

著录项

  • 公开/公告号CN106247972B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510962490.8

  • 申请日2015-12-21

  • 分类号

  • 代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郝明琴

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-21

    授权

    授权

  • 2017-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20151221

    实质审查的生效

  • 2017-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20151221

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    公开

    公开

  • 2016-12-21

    公开

    公开

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