一种适用于寒冷环境下的光谱仪自适应控制方法

摘要

本发明公开了一种适用于寒冷环境下的光谱仪自适应控制方法，涉及自动控制技术，包括以下步骤：1)入射光强度粗测；2)光谱仪总体输出最大值确定；3)光谱仪总体输出分解；4)光谱仪最佳曝光时间t_op确定；5)光谱仪自适应测量，将光谱仪曝光时间设定为t_op进行测量。本发明的有益效果是该自适应控制方法通过预估入射光强度并自动调节曝光时间的方式，使得光谱仪能够自动适应外界环境温度和光场强度的变化，尤其在恶劣寒冷环境下，进行自适应测量，减少器件由于温度变化产生的测量误差，从而得到满意的测量结果。