首页> 中国专利> 一种复合绝缘子缺陷的超声导波检测系统及其检测方法

一种复合绝缘子缺陷的超声导波检测系统及其检测方法

摘要

本发明公开了一种复合绝缘子缺陷的超声导波检测系统,包括:系统主控计算机、信号发生器、功率放大器、压电贴片、数字示波器。本发明还公开了一种应用于复合绝缘子缺陷的超声导波检测系统的检测方法,包括如下步骤:1、确定导波在复合绝缘子模型中传播的频散方程;2、利用实验测得的绝缘子试件相关参数求解相应的频散曲线;3、根据频散曲线结论确定激励导波频率、周期和模态;4、选取激励和接收点,实现导波的缺陷检测;5、将导波检测波形放入计算机进行数据分析处理,判断有无缺陷及缺陷大小类型。本发明具有准确快速、长距离、大范围、低成本等检测优点。

著录项

  • 公开/公告号CN105424802B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201510762760.0

  • 发明设计人 邓红雷;鲁强;陈力;

    申请日2015-11-10

  • 分类号G01N29/04(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗观祥

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-14

    授权

    授权

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/04 申请日:20151110

    实质审查的生效

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/04 申请日:20151110

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

  • 2016-03-23

    公开

    公开

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