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一种考虑继电器类单机贮存退化的潜通路分析方法

摘要

一种考虑继电器类单机贮存退化的潜通路分析方法。本发明涉及一种考虑继电器类单机贮存退化的潜通路分析方法。步骤一:在Simulink软件中建立待分析电路的定性模型;步骤二:根据所述定性模型及电路功能,确定由继电器类单机所控制的激励器件及执行器件;步骤三:按照继电器类单机贮存退化过程中t时刻的动作时间分布情况,通过蒙特卡洛方法随机抽样组合生成n组动作时间数据,作为激励器件的输入数据;步骤四:将所述n组动作时间数据分别输入至步骤一所建立的Simulink电路定性模型中。本发明用于考虑继电器类单机贮存退化的潜通路分析方法。

著录项

  • 公开/公告号CN107742046B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201711092963.9

  • 申请日2017-11-08

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:16:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    授权

    授权

  • 2018-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20171108

    实质审查的生效

  • 2018-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20171108

    实质审查的生效

  • 2018-02-27

    公开

    公开

  • 2018-02-27

    公开

    公开

  • 2018-02-27

    公开

    公开

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