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一种光子偏振态密度矩阵的直接测量装置及方法

摘要

一种光子偏振态密度矩阵的直接测量装置及方法,涉及一种光子偏振态密度矩阵的直接测量技术,为了解决量子层析术无法提供直接获取量子物理中相干性方法的问题。待测信号入射至第一状态转换器,经由第一状态转换器转换后的待测信号入射至对角偏振相关位移晶体,经过对角偏振相关位移晶体转换后的待测信号入射至第二状态转换器,经过第二状态转换器转换后的待测信号入射至成像系统,成像系统输出的待测信号入射至第三状态转换器,经过第三状态转换器转换后的待测信号被CCD相机接收。有益效果为该测量方法仅需要两个基底的三次测量,以确定任意选择的密度矩阵元而不考虑系统维数d,是替代层析术而局域化探测潜在混合态的极具吸引力的有效方法。

著录项

  • 公开/公告号CN107014493B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201710258109.9

  • 申请日2017-04-19

  • 分类号G01J4/00(20060101);G01J11/00(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人岳泉清

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:16:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    授权

    授权

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J4/00 申请日:20170419

    实质审查的生效

  • 2017-08-04

    公开

    公开

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