首页> 中国专利> 一种用于强散射源诊断的射线关联分析方法

一种用于强散射源诊断的射线关联分析方法

摘要

公开了一种用于强散射源诊断的射线关联分析方法,包括:根据目标中待分析区域的位置或散射源强度信息,从操作列表中选择一个散射源作为分析对象;从弹跳路径数据中获取经过分析对象的所有射线,形成射线子列表;沿着射线子列表中的每一条射线查找与分析对象关联的所有面元,形成面元子列表。本发明通过从弹跳路径数据中获取经过分析对象的所有射线形成射线子列表、并沿着射线子列表中的每一条射线查找与分析对象关联的所有面元,能够分析散射源的构成,从而获得散射源的形成机制,为目标的隐身设计提供理论指导。

著录项

  • 公开/公告号CN105334501B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN201510849233.3

  • 发明设计人 侯兆国;闫华;李焕敏;陈勇;王超;

    申请日2015-11-27

  • 分类号

  • 代理机构北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人周娇娇

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-24

    授权

    授权

  • 2016-03-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S7/02 申请日:20151127

    实质审查的生效

  • 2016-02-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号