首页> 中国专利> 一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法

一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法

摘要

本发明公开了一种基于腔长改变的光腔衰荡气体消光系数测量方法,它包括以下步骤:S1、入射激光束从平面高反镜透射后垂直入射到第一块平凹高反镜上,然后被平面高反镜再次反射,反射光垂直入射到第二块平凹高反镜上并被原路反射回平面反射镜,形成光腔衰荡;或者,入射激光束从第一块平凹高反镜透射后垂直入射到第二块平凹高反镜上,并被原路反射回第一块平凹高反镜,形成光腔衰荡;S2、从光学谐振腔透射的激光由聚焦透镜聚焦到光电探测器上,光电探测器探测光学谐振腔的衰荡信号;S3、通过控制一维电控位移台改变第二块平凹高反镜位置改变光学谐振腔腔长,重复步骤S2,测量两个或两个以上不同光学谐振腔腔长L下光学谐振腔的总损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN105651703B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201610242665.2

  • 申请日2016-04-19

  • 分类号G01N21/17(20060101);G01N21/39(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明;顾炜

  • 地址 610054 四川省成都市成华区建设北路二段四号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-14

    授权

    授权

  • 2016-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/17 申请日:20160419

    实质审查的生效

  • 2016-06-08

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号