首页> 中国专利> 一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法

一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法

摘要

本发明涉及一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,该方法通过对在轨暗场测试采集到的其中任一幅图进行计算,得到该幅图的背景信号S

著录项

  • 公开/公告号CN107197236B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院新疆理化技术研究所;

    申请/专利号CN201710507516.9

  • 申请日2017-06-28

  • 分类号

  • 代理机构乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙);

  • 代理人张莉

  • 地址 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-14

    授权

    授权

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N17/00 申请日:20170628

    实质审查的生效

  • 2017-09-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号