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不同大小样本均值-标准偏差控制图的统计过程控制方法

摘要

本发明公开了一种不同大小样本均值‑标准偏差控制图的统计过程控制方法,主要解决现有控制图无法对样本大小不同时实施统计过程控制的问题。其实施步骤是:1、获取产品样本;2、计算得到每组样本的均值和标准偏差;3、获得母体均值和标准偏差;4、计算均值‑标准偏差控制图中两个控制图各自相应的特征值,获得均值‑标准偏差控制图中两个控制图各自相应的控制线;5、按照休哈特控制图的绘制方法,将特征值和控制线绘制成对应的控制图;6应用判断过程异常准则对步骤5的控制图进行判断,得出生产过程是否处于受控状态的结果。本发明适用范围广,母体的均值和标准偏差计算精度高,可用于样本大小相同或不同的统计过程控制。

著录项

  • 公开/公告号CN105676817B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201610023611.7

  • 发明设计人 田文星;游海龙;顾铠;贾新章;

    申请日2016-01-14

  • 分类号G05B19/418(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;黎汉华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-27

    授权

    授权

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G05B19/418 申请日:20160114

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

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