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基于F-P标准具的瞬态高分辨率光谱仪

摘要

该发明是一种瞬态高分辨率光谱测量装置,涉及高分辨率光谱测量领域和瞬态光谱测量领域。该高分辨率光谱测量装置利用标准具自身的角度分光以及通过将多个F‑P标准具串接的技术来实现对单脉冲瞬态光谱的高分辨率测定。该发明可应用于布里渊散射、塞曼效应、自旋电子学等高分辨光谱测量领域。

著录项

  • 公开/公告号CN105092032B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京师范大学;

    申请/专利号CN201510366145.8

  • 申请日2015-06-30

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100875 北京市海淀区新街口外大街19号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-13

    授权

    授权

  • 2015-12-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20150630

    实质审查的生效

  • 2015-11-25

    公开

    公开

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