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磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统

摘要

本发明提供了一种磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统,其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质,利用平均弥散率的稀疏性,采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响,可以更有效地抑制弥散张量中的噪声,提高弥散张量的估计精度。

著录项

  • 公开/公告号CN104599244B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201410816610.9

  • 发明设计人 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣;

    申请日2014-12-23

  • 分类号

  • 代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人吴平

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-15

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/00 申请日:20141223

    实质审查的生效

  • 2015-05-06

    公开

    公开

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