实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法

摘要

本发明涉及一种实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法，其中包括电源，用以为待测设备供电；基带板，与待测设备相连接；控制终端，用以根据预先设定的程序通过基带板向待测设备发送控制变量对应的频率控制字信号，并根据相噪仪测量得到的杂散点的大小与系统预设杂散判定值的大小关系进行杂散校准；相噪仪，用以在不同的控制变量对应的频率控制字信号下检测杂散值并得到最大的杂散点对应的频率点、杂散点的位置及杂散点的大小。采用该种实现微波测试仪器近杂散自动校准的系统及方法，测试过程完全自动化，一旦测试参数配置好后，系统可以自动运行，完成杂散的自动测试和校准过程，大大减少了人工测试的时间和精力，具有更广泛的应用范围。