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基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统

摘要

本发明公开了一种基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统,其中方法包括步骤:建立稀疏变换基库,该稀疏变换基库包括多个基函数,根据该稀疏变换基库对原始微波辐射场分布进行稀疏表示;对综合孔径微波辐射计的基线进行测量权重建模并压缩抽取,得到抽取的基线;以及根据原始微波辐射场分布的稀疏表示及抽取的基线,使用基于稀疏重构的图像反演方法来得到场景亮温分布图像。

著录项

  • 公开/公告号CN104569976B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201410855723.X

  • 发明设计人 李达;

    申请日2014-12-31

  • 分类号

  • 代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人许美红

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-12

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20141231

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    公开

    公开

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